ARS2000角分辨光譜儀

ARS2000角分辨光譜儀

ARS2000 角分辨光譜儀是一款可變角度透反射便攜式現(xiàn)場測量光纖光譜儀，核心用于滿足納米光學材料及光學元器件的精準檢測需求。它可實現(xiàn)光子晶體、超導材料等的反射率、透射率、吸收測量，助力晶體能帶與缺陷特性研究；同時適配薄膜材料、玻璃、光學元器件等的特定角度透反射過程控制測量，實用性廣泛。

儀器配套手動式透反射測量支架，覆蓋 350nm~1050nm 光譜波段，支持 0°~120° 入射角度、8°~180° 接收角度的透射、反射及輻射光譜測量。內(nèi)部集成 ARM 嵌入式系統(tǒng)與 Uspectral Plus 軟件，可實現(xiàn)在線測量；同時配置 Windows 軟件，滿足專業(yè)光譜分析需求，操作靈活便捷。

核心特點

l    功能專業(yè)：全面覆蓋輻射、透射、反射、散射等多種檢測需求，適配不同材料測試場景。

l    使用便捷：體積小巧、性能穩(wěn)定，易維護、易存放、易操作，適配現(xiàn)場測量需求。

l    軟件強大：配套功能完備的專業(yè)軟件包，同時支持嵌入式在線測量與 Windows 系統(tǒng)光譜分析。

l    存儲靈活：可通過 USB 接口及時存儲測量數(shù)據(jù)，保障數(shù)據(jù)不丟失。

產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)

應用領域

l    納米光學材料研究：適用于光子晶體、超導材料等的反射率、透射率、吸收測量，助力晶體能帶、缺陷等特性研究。

l    多場景材料測試：適配鍍膜材料、液晶顯示、傳感器器件制備、角度材料相關(guān)分析等領域。

l    光學元器件檢測：用于薄膜材料、玻璃、光學元器件等特定角度下透過率、反射率的過程控制測量。

不同厚度的薄膜樣品角分辨折射光譜